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日本CKD半導體電動執行器滑塊型ESD2
超緊湊結構:控制器體積達行業最小級別(EC07 型僅 120×35×68mm),支持多軸密集安裝,適配半導體設備空間限制。
智能自動識別:控制器可自動識別執行器型號與參數,無需人工配置,大幅縮短調試時間(較傳統型號減少 70%)。
高動態響應:最高速度達 600mm/s,支持 S 型加減速曲線,滿足晶圓傳輸、檢測等場景的快速啟停需求。
采用全密封鋁合金殼體與低發塵潤滑脂,運行時發塵量 < 10 particles/ft3(0.5μm 以上顆粒),符合 ISO Class 5 潔凈室標準。
標配 IP4X 防護等級,可選 ESD 防靜電涂層(表面電阻 10?~10?Ω),有效避免靜電對晶圓的損傷。
重復定位精度達**±0.02mm**,無效空轉 < 0.1mm,滿足芯片鍵合、檢測等納米級工藝需求。
支持 7 點定位、63 點定位及脈沖串輸入三種控制模式,通過 EC63 型控制器可實現復雜路徑規劃(如螺旋線、橢圓插補)。
內置溫度、負載傳感器,通過專用軟件實時監測狀態,提前預警絲杠磨損、電機過熱等潛在故障。
采用 “帶潤滑輔助裝置的滾珠絲杠",維護周期延長至傳統型號的 3 倍以上,降低停機成本。
標配 EC07/EC63 型控制器,支持脈沖串輸入與模擬量控制,可無縫接入 PLC、運動控制器等上位系統。
可選 ECPT 型控制器,支持工業以太網協議(如 EtherCAT、Profinet),通信周期低至 1ms,實現多軸同步控制(如 4 軸聯動)。
配套軟件提供可視化編程界面,支持點動、微動、軌跡模擬等功能,參數整定時間縮短 60% 以上。
開放 Python API 接口,方便與客戶自研控制系統集成,實現工藝參數的靈活配置。
驅動光學探頭以 ±0.02mm 定位精度進行 360° 掃描,配合機器視覺實現晶圓表面缺陷微米級識別。
在電子束曝光設備中,與激光干涉儀閉環控制,實現 ±0.05μm 定位精度。
驅動引線鍵合頭以 600mm/s 速度完成引腳焊接,良率提升至 99.8% 以上。
通過 63 點定位功能,實現倒裝芯片凸塊與基板的柔性壓合。
驅動六軸機械臂在晶圓盒與工藝腔室間實現 ±0.02mm 重復定位,支持每小時 200 片晶圓吞吐量。
集成力控算法,檢測晶圓抓取時的微小應力變化,防止碎片風險。
安裝基面平面度需≤0.05mm/m,建議使用激光干涉儀校準。
采用柔性聯軸器(如梅花聯軸器),避免剛性沖擊損壞絲杠,軸向偏差≤0.05mm,徑向偏差≤0.03mm。
每運行 200 小時檢查編碼器線纜接口,確保屏蔽接地電阻 < 1Ω,防止高頻干擾影響精度。
每 6 個月清潔散熱孔,避免粉塵堆積導致散熱效率下降(建議使用潔凈氮氣吹掃)。
價格較同類產品低 15-20%,同時保持相近的定位精度(±0.02mm),適合中端市場需求。
常規型號備貨充足,交貨周期僅 7-10 天,較同類產品縮短 60%。
可提供真空兼容版本(內部氣壓 < 10??Pa)及特殊法蘭接口,適配半導體工藝腔室環境。
支持多軸同步控制算法定制,可匹配客戶特定工藝需求(如光致抗蝕劑涂覆的旋轉速度曲線優化)。
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